产品展示 当前位置:首页>>产品展示>> 辉光放电质谱仪 (GD-MS)系统

美国 赛默飞 ELEMENTTM GD PLUS GD 质谱仪

分享到:

产品名称:质谱仪     
制造厂商:美国 赛默飞
产品型号:ELEMENT™ GD PLUS GD
产品描述/技术指标:


ELEMENT™ GD PLUS GD 质谱仪

高纯度导体材料中微量元素直接分析
Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ GD-MS 系统将快速流辉光放电离子源与高分辨率质谱仪相结合,主要用于为冶金行业提供完整的材料表征。 作为高纯度导体和半导体材料直接分析的理想工具,此系统可以检测到并常规地为固体样本中几乎所有的元素在 ppb 级或以下进行定量。
了解如何借助 Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS 为固体中高级高纯度材料的直接分析定义新的标准。通过最大限度减少校准和样品制备操作,可提高样品处理量并达到超低检测限,从而使 GD-MS 适合整块金属分析和深度剖析应用。
陶瓷和其他几种非导电粉末使用二次电极法进行分析,从而提供相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。

描述

存在于固体样品中的几乎所有元素都可进行常规检测和定量:许多元素的含量低于十亿分率 (ppb) 水平。
µs 脉冲式高流速辉光放电池
采用脉冲放电模式的高灵敏度离子源
广泛可调的溅射速率适用于快速进行整体分析和高级深度剖析应用
使用二级电极进行氧化铝粉末分析
双聚焦质谱仪
高离子传输率和低背景使得信噪比可达亚 ppb 级检测限
高质量分辨率可提供最高水平的选择性和准确度:是无可争议的分析结果的先决条件

十二数量级的自动检测系统
在一次分析中测定基体和超痕量元素,全自动检测器涵盖 12 数量级动态线性范围
直接定量测定基体元素 IBR(离子束比率)
高效率和简单易用的软件包
所有参数均由计算机控制
全自动调谐、分析和数据评估
自动 LIMS 连接性
远程控制和诊断
Windows 7
样品周转时间通常少于 10 分钟
能够在一次分析中测定基体元素到超痕量元素
深度剖析涵盖数百微米到一纳米的层厚度
最小化基体效应,便于进行直接定量

推荐用途:
航空航天:镍基高温合金、复合材料、涂层和扩散层的深度剖析
微电子学:铜、铝粉、溅射靶材
可再生能源:硅块、晶片、太阳能电池
医疗/制药/食品:不锈钢、合金

上一条:暂无记录

下一条:暂无记录